中国标准分类[l40半导体分立器件综合]-fh体育

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 您的位置:fh体育 >> 标准分类 >> 中标分类 >> l电子元器件与信息技术 >> l40/49 半导体分立器件
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
    国家市场监督管理总局. 2024-04-01 即将实施
 t/cie 147-2022  空间行波管加速寿命试验评估技术规范 中国电子学会 现行
    国家质量监督检验检疫. 2013-02-15 现行
 t/cie 145-2022  辐射诱生缺陷的深能级瞬态谱测试方法 2023-01-31 现行
 db52/t 1104-2016  半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法 贵州省质量技术监督局 2016-10-01 废止
 gb 11499-1989  半导体分立器件文字符号 1990-04-01 作废
 gb/t 11499-2001  半导体分立器件文字符号 国家质量监督检验检疫. 2002-06-01 现行
 gb 12300-1990  功率晶体管安全工作区测试方法 国家技术监督局 1990-08-01 现行
 gb 12560-1990  半导体器件 分立器件分规范 (可供认证用) 1991-10-01 作废
 gb/t 12560-1999  半导体器件 分立器件分规范 国家质量技术监督局 2000-03-01 现行
 gb/t 15651-1995  半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件 国家技术监督局 1996-04-01 现行
 gb/t 15852.2-2012  信息技术 安全技术 消息鉴别码 第2部分:采用专用杂凑函数的机制 国家质量监督检验检疫. 2013-06-01 现行
 gb/t 17573-1998  半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则 国家质量技术监督局 1999-06-01 现行
    国家质量监督检验检疫. 2013-02-15 现行
    国家质量监督检验检疫. 2004-08-01 现行
    国家质量监督检验检疫. 2008-11-01 现行
    国家质量监督检验检疫. 2008-11-01 现行
 gb/t 20516-2006  半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件 国家质量监督检验检疫. 2007-02-01 现行
 gb/t 20521-2006  半导体器件 第14-1部分:半导体传感器-总则和分类 国家质量监督检验检疫. 2007-02-01 现行
 gb/t 20522-2006  半导体器件 第14-3部分:半导体传感器-压力传感器 国家质量监督检验检疫. 2007-02-01 现行
 gb/t 20870.1-2007  半导体器件 第16-1部分:微波集成电路 放大器 国家质量监督检验检疫. 2007-09-01 现行
 gb/t 249-1989  半导体分立器件型号命名方法 信息产业部(电子) 1990-04-01 作废
 gb/t 249-2017  半导体分立器件型号命名方法 国家质量监督检验检疫. 2017-12-01 现行
    国家质量监督检验检疫. 2014-02-01 现行
    国家市场监督管理总局. 2023-09-01 现行
    国家市场监督管理总局. 2023-09-01 现行
    国家市场监督管理总局. 2024-03-01 即将实施
    国家市场监督管理总局. 2023-09-01 现行
    国家市场监督管理总局. 2023-12-01 即将实施
    信息产业部(电子) 1990-01-01 作废
 gb/t 4589.1-2006  半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 国家质量监督检验检疫. 2007-02-01 现行
    1985-11-01 作废
    国家技术监督局 1996-08-01 作废
    国家质量监督检验检疫. 2007-02-01 现行
 gb/t 4937.11-2018  半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法 国家市场监督管理总局. 2019-01-01 现行
 gb/t 4937.12-2018  半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动 国家市场监督管理总局. 2019-01-01 现行
    国家市场监督管理总局. 2019-01-01 现行
    国家市场监督管理总局. 2019-01-01 现行
    国家市场监督管理总局. 2019-01-01 现行
    国家市场监督管理总局. 2019-01-01 现行
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