半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法 |
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| 标准编号：gb/t 4937.11-2018 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：20.0 元 |
客户评分：  |
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gb/t 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气?空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时，优先采用空气-空气温度循环试验。本试验也可采用少量循环(5次～10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明，本试验被认为是破坏性的。本试验与gb/t 2423.22-2002基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。 |
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| 英文名称： |
semiconductor devices—mechanical and climatic test methods—part 11:rapid change of temperature—two-fluid-bath method |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>l40半导体分立器件综合 |
| ics分类： |
电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 |
| 采标情况： |
iec 60749-11:2002 idt |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2018-09-17 |
| 实施日期： |
2019-01-01
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| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会(sac/tc 78) |
| 主管部门： |
全国半导体器件标准化技术委员会(sac/tc 78) |
| 起草单位： |
中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 起草人： |
张天福、高金环、彭浩、李树杰、于学东、崔波、裴选、迟雷、张艳杰 |
| 页数： |
8页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2018-09-01 |
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客服中心 |
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