半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动 |
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| 标准编号：gb/t 4937.12-2018 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：20.0 元 |
客户评分：  |
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本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。?本试验与gb/t 2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。 |
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| 英文名称： |
semiconductor devices—mechanical and climatic test methods—part 12:vibration,variable frequency |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>l40半导体分立器件综合 |
| ics分类： |
电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 |
| 采标情况： |
iec 60749-12:2002 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2018-09-17 |
| 实施日期： |
2019-01-01
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| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会(sac/tc 78) |
| 起草单位： |
中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 起草人： |
迟雷、彭浩、岳振鹏、李树杰、崔波、高金环、裴选、张艳杰 |
| 页数： |
8页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2018-09-01 |
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客服中心 |
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