硅片抗弯强度测试方法 |
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| 标准编号：gb/t 15615-1995 |
标准状态：已作废 |
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| 标准价格：10.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了硅单晶切割片、研磨片和抛光片的抗弯强度测试方法。本标准适用于晶向为〈111〉和〈100〉的直拉、悬浮区熔硅单晶片的常温下抗弯强度的测量。硅片厚度为250～900μm。 |
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| 英文名称： |
test method for measuring flexure strength of silicon slices |
| 标准状态： |
已作废 |
 中标分类： |
冶金>>金属理化性能试验方法>>h23金属工艺性能试验方法 |
| ics分类： |
冶金>>金属材料试验>> |
| udc分类： |
669.782-41;620.173.26 |
| 发布部门： |
国家技术监督局 |
| 发布日期： |
1995-07-12 |
| 实施日期： |
1996-02-01
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| 作废日期： |
2005-10-14
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| 首发日期： |
1995-07-12 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
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| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
中南工业大学 |
| 页数： |
平装16开， 页数：9， 字数：14千字 |
| 标准前页： |
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客服中心 |
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